Электронный микроскоп ERSTEVAK-EM8100F PRO FEG SEM купить по цене производителя
Микроскоп SEM - JSM-IT200 InTouchScope™ - Jeol - для анализов / ПЗС / автоматический
62122-15: Verios 460 XНR SEM Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов - Производители, поставщики и поверители
Электронный сканирующий микроскоп - JSM-7900F - Jeol - для анализов / метрологии / высокое разрешение